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메모리테스터


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1. 국내기술로 최초의 TEST장비의 국산화 - READ,R/A 기능탑재 :양불판정후 재생정보 분석 2. 검사시간 및 비용감소 효과 - 검사 정밀도를 기존 장비 대비 2배향상(20MHz) 3. WAFER BURN-IN TESTER 기능 통합. - WBI + TESTER -> 공정단축

发布 2019-11-19 来源 http://gd.kidp.or.kr
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设计公司

프롬써어티(주)

设计师

정민현 (Jeong min-hyeon),배용탁,김영진

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